电性分析_胜科纳米（苏州）股份有限公司

电性分析 - 分类：解决方案 - 发布时间：2022-05-18 17:47:32 - 访问量：0 概要: 概要: 详情 为了满足各种半导体器件的需要，必需对材料的电学参数进行测量，这些参数一般为电 阻率、载流子浓度、导电类型、迁移率、寿命及载流子浓度分布等。 一、ESD/EOS 静电测试 ESD测试用于验证产品是否能够承受静电放电(ESD)事件和其他威胁，确保集成电路芯片和其他电子产品符合国家、国际和行业ESD和电磁兼容性(EMC)测试标准，可以提供全套的HBM/MM/Latch-Up/CDM/TLP测试。 二、电学测试和故障分析能力和应用 (EFA) 封装级和器件级的失效定位分析 （Package/device-level Fault Isolation） PCB 失效分析 Failure Analysis 电测量分析 Electrical Testing ESD/EOS Testing lab 2D/3DX-射线分析NDT 2D/3D X-ray CT 射频器件，LED激光器，光电器件，CMOS器件等各类半导体器件 三、主要设备 Nanoprobe EMMI / OBIRCH Thermal 2D XRAY 3D CT -XRAY SAT (SAM) 扫二维码用手机看 © 2022 胜科纳米（苏州）股份有限公司. 苏ICP备18002875号